2022年7月22日，“創芯驅動，碳索未來—功率半導體與集成電路國際工程科技戰略高端論壇”在無錫順利召開，共有來自政產學研用各界的院士、專家、學者、嘉賓等300余人匯聚一堂，就功率半導體與集成電路領域的技術進步與創新所涉及的問題進行廣泛而深入的探討。中導光電設備股份有限公司董事長李波先生作為唯一的科技企業應邀嘉賓，帶領部分骨干成員出席了本次論壇。
本次論壇由中國工程院、中國中車股份有限公司主辦，無錫市人民政府、中國工程院機械與運載工程學部、中國工程科技發展戰略江蘇研究院、中車株洲所承辦，包括中國工程院院士吳漢明、諾貝爾獎獲得者康斯坦丁·諾沃肖洛夫、中導光電設備股份有限公司董事長李波先生等10名中外行業專家發表主旨演講，啟迪智慧，凝聚共識，為提升我國功率半導體與集成電路設計制造水平，推動產業發展把脈獻策。
論壇上，李波董事長在會上做《半導體芯片制造缺陷檢測技術及設備》在線主旨演講，在演講中，李波董事長提出光學檢測技術及設備已經在國內外半導體檢測設備市場占據絕對領導地位，其中前道檢測設備國產化率幾乎為零，國產替代空間巨大，國產檢測設備前景廣大，中導光電公司自研的45nm至60nm的NanoPro、MDI系列半導體晶圓片檢測設備計劃2023年開始陸續推向市場，介紹了檢測設備在半導體芯片制造中的角色和作用、在前道芯片制造過程中的應用以及芯片缺陷檢測面臨的挑戰，并分享了其團隊在相關檢測領域的研發能力及技術儲備。現場的諸位院士專家、行業大咖思維碰撞，共同探討功率半導體與集成電路前沿技術，共同謀劃持續發展的愿景圖景。
